株式会社エレクトロニカ IMT事業部

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Application notes
Case Study
Research papers

Spectrumアプリケーションリーフレット2024

複数カード連携が可能！大型装置などの多点の信号を同期測定

大規模物理実験装置、マトリックス状に配置した種々の素子の特性検査、大型装置などの多点の信号を、効率よく且つ、同期測定可能な「マルチチャネル計測」を紹介。

チャネル数は、カード当たり1,2,4,8ですが、複数カード（最大で8台）連携が可能。
「NETBOX」を使用することにより、サンプリングレートによっては、1台当たり、最大48チャネルまで可能。

詳細は、下記を参照してください。
マルチチャネル計測
東京大学物性研究所 国際超強地場科学研究施設での応用例
Multi-Channeiデジタイザの自動車計測への応用

任意波形発生器とデジタイザの連携_hybridNETBOXの適用事例

任意波形発生器とデジタイザの連携（PCソフト或いはSBench6を使用）の例及び、hybridNETBOXの適用事例（PCソフト或いはSBench6を使用）の例を示す。

詳細は、下記を参照してください。
任意波形発生器とデジタイザの連携_hybridNETBOXの適用事例

SCAPPを使用した高速演算例の紹介

SCAPP (Spectrum’s Cuda Access Parallel Processing)とGPUを使用しての高速演算の例を示しています。

CUDA：半導体メーカーNVIDIA社が提供するGPUコンピューティング向けの統合開発環境。プログラム記述、コンパイラ、ライブラリ、デバッガなどから構成されており、C言語によるプログラミングの経験があれば扱いやすくなっています。

OS環境：LINUX、Windows

詳細は、下記を参照してください。
SCAPPを使用した高速演算例の紹介

部品特性検査（ダイオードの例）

下記により、比較的簡単に部品計測が可能
・SBench6の波形作成機能（Easy Generator）を使用してのAWG（任意関数発生器）からの信号発生
・デジタイザでの波形測定とSBench6使用してのX-Y表示機能
・AWGの波形発生に同期したデジタイザの測定機能

詳細は、下記を参照してください。
部品特性検査（ダイオードの例）

アナログ_デジタル混在信号の同期計測

詳細は、下記を参照してください。
アナログ_デジタル混在信号の同期計測_rev1

高速アナログ信号発生、収集及びデジタルI/O信号の同期計測

下記のM2Pシリーズにより、アナログ信号、デジタル信号の同期計測が可能

M2p.5968-x4  16ビット、125MS/s 、4CHデジタイザ

M2p.6568-x4  16ビット、125MS/s 、8CH AWG

M2P7515-X4   32CH、Digital I/O

Star Hubを使用して、最大16個の異なるカード（デジタイザ、AWGS、デジタルI/Oモジュール）を混合しての同期計測可能

・SBench6-Proを用いる事により、アナログ信号とデジタル信号を同一画面上に、同期しての表示が可能

SBench6：プログラムなしで、測定条件の設定、測定データ　の表示、格納他を行うことが出来るツール

詳細は、下記を参照してください。
マルチチャネル多機能測定システムの詳細

自動車用リモートキーレスエントリー信号の計測

リモートキーレスエントリーは、単純な機械式からドアの開閉だけではなく、リモートスターター、
キーレスイグニッションなどを含んだミニチュア電子機器になってきています。
・信号は、セキュリティのためUHF帯を使用しており、変調方式は、ASK、FSKを使用しています。
　キャリア周波数は下記です。
　日本/アメリカ　315 MHz, 433.92 MHz
　ヨーロッパ　    434.79 MHz, 869 MHz
・上記の信号を測定するためには、高サンプリングレート
　広帯域、ロングメモリを持つ測定器・デジタイザが必要になります。

詳細は、下記を参照してください.
Remote Entry Entry