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部品特性検査（ダイオードの例）
部品特性検査（ダイオードの例）
下記により、比較的簡単に部品計測が可能
・SBench6の波形作成機能（Easy Generator）を使用してのAWG（任意関数発生器）からの信号発生
・デジタイザでの波形測定とSBench6使用してのX-Y表示機能
・AWGの波形発生に同期したデジタイザの測定機能
詳細は、下記を参照してください。
部品特性検査（ダイオードの例）
アナログ_デジタル混在信号の同期計測
アナログ_デジタル混在信号の同期計測
デジタイザM2p.59xx-x4（16ビット）とDIオプション、或いは、M4i.44xx-x8（16/14ビット）とDIオプション
・物理層の信号計測（アナログ信号計測）とプロトコル層の信号計測（ロジックアナライザのイメージ）を同期データ収集
アナログ信号の分解能の最高ビットをデジタル信号に割り当てる事により、同期計測を実現。
・SBench6-Proを用いる事により、アナログ信号とデジタル信号を同一画面上に、同期しての表示が可能
詳細は、下記を参照してください。
アナログ_デジタル混在信号の同期計測_rev1
マルチチャネル多機能測定システム（同期計測）
高速アナログ信号発生、収集及びデジタルI/O信号の同期計測
下記のM2Pシリーズにより、アナログ信号、デジタル信号の同期計測が可能
M2p.5968-x4 16ビット、125MS/s 、4CHデジタイザ
M2p.6568-x4 16ビット、125MS/s 、8CH AWG
M2P7515-X4 32CH、Digital I/O
Star Hubを使用して、最大16個の異なるカード（デジタイザ、AWGS、デジタルI/Oモジュール）を混合しての同期計測可能
・SBench6-Proを用いる事により、アナログ信号とデジタル信号を同一画面上に、同期しての表示が可能
SBench6：プログラムなしで、測定条件の設定、測定データ の表示、格納他を行うことが出来るツール
詳細は、下記を参照してください。
マルチチャネル多機能測定システムの詳細